X射線熒光光譜儀可以根據各元素特征X射線的強度來確定元素的含量。
近年來,X射線熒光光譜分析在各個行業的應用范圍不斷擴大,在冶金、地質、有色金屬、建材、商檢、環保、衛生等領域得到了廣泛應用,尤其是在RoHS檢測領域。
它可以分析大多數分析元素,包括固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍從Be到u,具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小等特點。
Ux-2100 Plus通過了GB/T33352-2016《電子電氣產品中限用物質篩查和應用通則》的等級認證,應用于RoHS/ELV控制的有害元素(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、鉻(Cr)、溴(Br)和氯(Cl)的檢測。
X射線熒光光譜儀由激發源(X射線管)和檢測系統組成。X射線管產生入射X射線(初級X射線),激發被測樣品并產生X射線熒光(次級X射線),檢測器檢測X射線熒光。
x射線熒光光譜儀是一種可以快速同時測定多種元素的儀器。樣品經X射線照射后,各元素原子內殼層(K、L或M層)的電子被激發,將原子逐出,引起電子躍遷,發出該元素的特征X射線熒光。每種元素都有其特有的特定波長的X射線。能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)利用熒光X射線能量不同的特點,通過探測器本身的能量分辨能力來區分探測到的X射線。