Ux-720精密涂層分析儀X射線熒光光譜儀是專門為金屬合金、鋁型材、塑料等材料的涂層分析和達克羅涂層分析而設計的普及型機型，為三重射線保護系統。人性化的操作界面；華為VisualFp基本參數法分析軟件可用于盲測(即無需標樣校準)，以測試客戶樣品的涂層厚度和分析基材成分，降低客戶購買標樣(特別是特殊樣品)的成本。精心設計的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復雜的工廠對涂布、鍍膜的過程控制。

　　Ux-720檢測系統

　　功能:檢測樣品的特征X射線，對采集的信號進行處理，并將處理結果傳送給計算機。

　　型號:Si-PIN X-123(美國進口)

　　是窗戶嗎？？？:1毫米(0.0254毫米)

　　分辨率:145±5eV

　　系統峰背比:≥ 6200/1

　　能量響應范圍:1千電子伏-40千電子伏

　　推薦計數率:5000cps

　　x射線和β射線法為非接觸式無損測量，測量范圍小。x射線法可以測量極薄的涂層、雙層涂層和合金涂層。β射線法適用于原子序數大于3的涂層和鍍層的測量。電容法僅在測量薄導體的絕緣涂層厚度時使用。

　　Ux-720高準平臺

　　在加載試驗平臺上，微調裝置在儀器的右側，通過旋轉按鈕來調整樣品的移動，移動范圍為X軸15 mm，Y軸15mm。結合260萬像素的高清CCD，對測試樣品進行定位，防止樣品放置后關閉樣品蓋造成的震動，使測試位置發生變化，測試不準確。