使用半導體探測器和多道脈沖幅度分析器可以提高分辨率，并且可以用微處理器同時測定樣品中的o-sn元素，分析速度快。

　　探測器直接測量元素的X射線熒光強度，而我們關注的是元素的含量。我們根據X射線熒光強度與元素含量的比例關系，通過測量已知含量的標準樣品，建立工作曲線(由安裝工程師設定)，然后根據待測樣品的X射線熒光強度，由計算機自動換算成含量值。

　　Ux-2100 Plus儀器安裝使用注意事項

　　1.儀器就位前，請連接左圖，保證儀器的使用空間；

　　2.使用環境要求無強電磁干擾，無腐蝕性氣體；

　　3.使用溫度變化不超過5℃/小時，濕度保證不結露；

　　4.儀器需要可靠的獨立接地，對地電阻應≤4ω；

　　5.測試小件物品時，請使用樣品杯裝置或用聚脂薄膜密封測試孔，并定期清潔樣品室。清洗時，用膠帶封住測試孔，確保沒有異物掉入儀器內損壞儀器；

　　6.本儀器為輻射裝置，不要通電開機；

　　7.儀器出現故障，請及時通知廠家，不要自行維修造成維修損失；

　　8.本儀器為精密儀器，需小心處理，否則可能造成人為損壞。

　　x射線熒光光譜儀是一種可以快速同時測定多種元素的儀器。樣品經X射線照射后，各元素原子內殼層(K、L或M層)的電子被激發，將原子逐出，引起電子躍遷，發出該元素的特征X射線熒光。每種元素都有其特有的特定波長的X射線。能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)利用熒光X射線能量不同的特點，通過探測器本身的能量分辨能力來區分探測到的X射線。