隨著科技的發展，特別是近年來微機技術的引入，X射線涂層測厚儀的使用向著小型化、智能化、多功能、高精度和實用化邁進了一步。測量的分辨率達到了0.1微米，精度可以達到1%，有了很大的提高。由于其應用范圍廣、測量范圍寬、操作簡單、價格低廉，在工業和科研中得到廣泛應用。

　　Ux-720高分辨率CCD

　　260萬像素的高清CCD攝像機可以有效地實時觀察測試區域的情況，并拍攝材料的照片，作為測試報告的一部分。

　　Ux-720檢測系統

　　功能:檢測樣品的特征X射線，對采集的信號進行處理，并將處理結果傳送給計算機。

　　型號:Si-PIN X-123(美國進口)

　　是窗戶嗎？？？:1毫米(0.0254毫米)

　　分辨率:145±5eV

　　系統峰背比:≥ 6200/1

　　能量響應范圍:1千電子伏-40千電子伏

　　推薦計數率:5000cps

　　Ux-720儀器技術指標

　　1.分析元素范圍:Na-U

　　2.檢測范圍:1ppm-99.99%

　　3.檢測厚度:1納米

　　4.檢測厚度上限，30-50um(取決于材料)

　　5.檢測涂層數量:1-10。

　　6.測量時間:30-150秒(系統自動調整)

　　7.分辨率:145±5eV

　　8.準直器:0.5mm、φ 1 mm、φ 2 mm、φ 4 mm自動切換。

　　9.濾光片:五種濾光片自動切換。

　　10.CCD觀察:260萬像素高清CCD。

　　11.樣品微動范圍:XY15mm。

　　12.儀器尺寸:680(寬)x400(深)x390(高)毫米

　　13.樣品腔尺寸:300 * 360 * 100mm

　　14.輸入電源:AC220V~240V，50/60Hz。

　　15.額定功率:350W

　　16.重量:約45Kg

　　17.工作環境溫度:15-30℃。

　　18.工作環境相對濕度:≤85%(無凝露)

　　19.穩定性:重復測量誤差小于0.1%。